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FAQ
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更新时间：2024.11.25
HC32F4A0 ADC精度测试
F4A0 ADC步进100mV采样性能测试
FAQ
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更新时间：2022.05.27
HC32F460复位标志位问题
重新上电后，HC32F460上电标志位是否置位？
FAQ
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更新时间：2022.05.06
HC32F4A0 ucosiii操作浮点数进入HardFault
HC32F4A0 ucosiii操作浮点数进入HardFault
FAQ
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更新时间：2022.05.05
HC32F460 ISP下载无法运行
通过SWD下载运行正常，在ISP烧录下载后无法运行
FAQ
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更新时间：2022.04.29
HC32F4xx i2s使用内部时钟播放时存在杂音
HC32F4xx i2s使用内部时钟播放时存在杂音。
FAQ
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更新时间：2022.04.28
HC32F4xx短接CAN总线后，CAN模块如何恢复正常工作。
HC32F4xx短接CAN总线后，CAN模块如何恢复正常工作。
FAQ
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更新时间：2022.04.28
HC32F4A0原厂开发板CAN模块无法通信，不停出现错误帧
HC32F4A0原厂开发板CAN模块无法通信，不停出现错误帧（感觉波特率降低）。
FAQ
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更新时间：2022.04.28
HC32L072的CAN通信过程中出现接触不良，节点出现异常
HC32L072的CAN通信过程中出现接触不良，节点出现异常，固定时序发送脉冲，MCU无法控制，总线被拖累。
FAQ
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更新时间：2022.04.28
HC32L072的CAN通信过程受到干扰，低8位数据覆盖高8位数据。
HC32L072的CAN通信过程受到干扰，出现低8位数据覆盖高8位数据的情况。
FAQ
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更新时间：2022.04.28
HC32L072的CAN通信过程中受到干扰，偶然ID的第一字节出现突变
HC32L072的CAN通信过程中受到干扰，偶然ID的第一字节出现突变。
FAQ
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更新时间：2022.04.28
HC32L1xx使用PCA产生8位PWM时，如何改变PWM的频率？
HC32L1xx使用PCA产生8位PWM时，如何改变PWM的频率？
FAQ
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更新时间：2022.04.28
如何防止Flash扇区被意外擦除？
如何防止Flash扇区被意外擦除？
FAQ
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更新时间：2022.04.27
HC32L176KATA封装替换
HC32L176KATA-LQFP64封装能否用HC32L176KATA-LQ64封装替换，直接贴片？
FAQ
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更新时间：2022.04.26
HC32F0xx ADC时钟是否要低采样才准确
HC32F0xx ADC用PCLK时钟，降低ADC时钟后采样才准，ADC时钟要低采样才准确吗？
FAQ
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更新时间：2022.04.26
AMetal平台ADC代码设置的对应引脚外部测量一直是高电平
HC32F0xx AMetal平台ADC代码设置的对应引脚，为什么外部测量一直是高电平？
FAQ
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更新时间：2022.04.26
AMetal平台i2c从机例程的通信异常
HC32F0xx AMetal平台i2c从机例程的通信异常？
FAQ
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更新时间：2022.04.26
HC32F0xx使用spi硬件片选出现时间间隔可能会导致通信失败
HC32F0xx使用spi硬件片选出现时间间隔，可能会导致和一些带子地址设备通信失败。
FAQ
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更新时间：2022.04.26
HC32F460使用ISP无法烧录芯片
HC32F460使用ISP烧录，选好了mode引脚，进行上下电，无法烧录芯片。
FAQ
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更新时间：2022.04.26
Easy-HC32F460开发板CAN模块无法通信
Easy-HC32F460开发板CAN模块无法通信，检查引脚无任何波形。
FAQ
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更新时间：2022.04.26
HC32F4xx APP生成的文件前面一大块被0xff覆盖
HC32F4xx APP生成的文件前面一大块被0xff覆盖。