FAQKW36-外部32M晶振调试方法

射频频率精度与外部晶振高频时钟有关,但很多客户不知如何调整Kw36的外部时钟精度
更新时间:2022.03.14 浏览量:0

1. 由于示波器探头有结电容,使用示波器探头接触晶振引脚来测试频率的方法存在误差,所以建议使用频谱仪来测试,避免引入不必要的结电容;


2. 按照原厂推荐方法,将频谱仪通过射频线与KW36的射频端口连接后,直接测试2.4G信号精度,原厂调整方法链接:


KW36-Trimming-adjust-of-32MHz-XTAL-external-oscillator


3. 此处提供另外一种方法,使用频偏仪耦合测试32MHz 的时钟精度,无需焊接射频线:




a.打开SDK_2_2_X_FRDM-KW36\boards\frdmkw36\wireless_examples\genfsk\conn_test示例,编译后将其编程到demo板,SDK提供有裸机和FreeRTOS 版本。Note: FRDM-KW36 板默认采用的是PTC5/PTC6引脚,如果是客户自己的板子需要根据设计自行更改为对应的串口引脚。

b. 将电路板的串口连接到串行终端软件, 启动应用程序时,会看到NXP的相关打印信息;

c. 按回车键开始测试,然后按“1”选择“Continuous Tests”。

d. 选择“6”开始连续的未调制射频测试。

e. 使用频偏仪,射频线剪掉一段,露出芯线,靠近样机的32MHz晶振,频谱仪设置:freq-32MHz、Span-3KHz、Ampt-(-40dbm)、输入衰减-0dB、Trace-Max hold;

f. 用“d” XtalTrim+ 和“f” XtalTrim- 键调整内部电容,32MHz频率偏小则调小电容值,频率偏大则调大电容值。直至频点靠近中心频率


        g. 一旦找到合适的 XTAL 调整值,就可以在任何蓝牙 LE 示例中将其编程为默认值,更改的位置位于 board.c 文件,从而修改mXtalTrimDefault 常量:


最后,客户还需要确认Ble_RadioInit中有没有调用下图所示函数,如果没有,像这样调用:


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